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表面分析技术专业委员会参加“中国(广州)分析测试论坛”并做报告

2016/4/18

表面分析专业委员会主任委员陈建研究员、秘书长谢方艳高级实验师、委员谢伟广教授受邀参加于2016年3月31至4月1日在广州保利世贸博览馆召开的2016广州国际分析测试及实验室设备展览会暨技术研讨会,并在“中国(广州)分析测试论坛”光谱、表面及X射线衍射分析技术分会场做报告。

中山大学测试中心陈建研究员结合自己的研究课题向参加展览会的与会代表深入浅出地介绍了聚合物共混体系的相界面研究,利用拉曼成像对聚合物共混体系的界面在微米尺度进行结构表征,利用最新联用技术AFM-IR联用、AFM-Raman及TERS技术使纳米尺度的结构表征成为可能。

中山大学测试中心谢方艳博士做了题为“光电子能谱在材料研究中的应用”的报告,从十年来中山大学测试中心光电子能谱机组的发展历程、技术应用、科研支撑向与会代表进行了详细的介绍,并结合中山大学、广东省内科研院校多个科研课题组的研究进展及高新科研企业的技术研发热点,详细阐述了光电子能谱在材料科学研究中的应用。

暨南大学谢伟广教授结合自己的科研工作做了题为“开尔文探针显微镜在光电材料与器件研究中的应用”的研究报告。报告中,谢教授以开尔文探针显微镜在氧化钼变色的微观机制及太阳电池器件p-n结界面的结特性研究中的应用为例,介绍了表面分析技术开尔文探针显微镜的工作原理、技术特点和科研应用。

会后三位专家与参会的分析测试技术人员、科研院校、高新企业科研人员就表面分析技术在不同领域的应用展开了深入的讨论。广东省表面分析专业委员会藉此次2016广州国际分析测试及实验室设备展览会向广东省分析测试技术人员、华南地区高新科技企业等与会人员宣传表面分析技术及其应用,大力促进了广东省表面分析领域相关技术的普及、开发及技术培训交流等工作。

信息来源:广东省分析测试协会

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