设为首页|加为收藏|联系我们
高级搜索搜索
首页 > 表面分析分会 > 机构新闻

表面分析专业委员会举办"飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用"讲座

2018/5/10

      2018年4月19日15:00–17:00在中山大学测试大楼420讲学厅举办了表面分析技术讲座——飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用。德国IONTOF公司中国代表处(北京艾飞拓科技有限公司)总经理高聚宁和全球销售总监Dr. Sven Kayser作为此次讲座的主讲人,表面分析专业委员会秘书长谢方艳博士主持,中山大学及其它高校的老师学生(50余人)共同聆听了这次讲座。

      飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面检测技术。它可以获得关于表面、薄膜以及样品界面的元素和分子的详细信息,并且给出完整的三维分析。这种技术的应用范围十分广泛,包括半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等。本次讲座中两位专家为我们带来了飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)的最新进展,重点报告了TOF-SIMS在材料分析中的最新应用成果。

      IONTOF公司中国代表处高聚宁总经理详细介绍了TOF-SIMS的原理特点以及最新进展,结合在材料表面的分析应用;Dr. Sven Kayser通过若干实例给老师和同学们分享了现在TOF-SIMS在半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等许多方面的最新创新应用。

      报告结束后,同学和老师们的热情不减,现场就TOF-SIMS在各个学科领域的应用提出了问题,高聚宁总经理和Dr.Sven Kayser以自己丰富的经验进行了全面细致的解答,并与提问者探讨交流。

      最后讲座在热烈的掌声中结束,老师同学们都收获颇丰。本次讲座为老师同学们提供了一个直接与TOF-SIMS领域国内外专家面对面交流学习的机会,加深了大家对表面分析技术TOF-SIMS的了解与应用。

信息来源:广东省分析测试协会

活动影集

友情链接